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Products
氧化诱导测定仪
氧化诱导期分析仪
型号:HYD
〔基本技术指标〕:
温度范围:室温-1150℃
升温速率:0.1℃/min至80℃/min
温度准确度:±0.1℃
DTA解析度:0.01μv
DSC最小分辨率:0.1μw
〔概述〕
氧化诱导期热稳定实验适用于国标GB/T17391-1998
主要参数
:
能连续记录试样温度的差热分析仪(DTA),差示扫描量热仪(DSC)或其他类似的热分析仪器,
温度控制精度0.1度
试验方法:
1、 截取少量样品放入仪器样品架内,接通氧气和氮气。在氮气状态下以20℃/min的速率从室温升温到200℃±0.1℃保持恒温7分钟;
2、200℃恒温7分钟后迅速切换成氧气,并记录曲线明显变化的时间即氧化诱导期时间。
〔其它用途〕
测量与热量有关的物理、化学变化,如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性等变化。
主要技术指标
温度数据
差热数据
温度范围
CT室温~1150℃
测量范围
±10μv~±2000μv
温度准确度
±0.1℃
DTA解析度
0.01μv
升温速率
0.1℃/min−80℃/min
DTA噪声
< 0.01μv
温度重复性
±0.1℃
坩埚容积
0.06ml
特色功能
DSC数据
控温方式
升温,恒温(程序自动控制)
测量范围
±100mw
显示方式
汉字大屏液晶显示
最小分辨率
±0.1μw
气氛系统
氮气、氧气自动切换
功率噪声
±0.1μw
气体流速
10 ~ 200 mL/min
功率准确度
±0.1μw
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